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| 「第18回 シール・ラベルコンテスト2008」 第一次審査会を開催 |
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 連合会の技術・特許委員会（下山正彦委員長）は８月1日（金）、東京・北上野の東京正札シール印刷会館で「第1８回シール・ラベルコンテスト２００８」の第一次審査会を小宮山光男会長立会いのもと開催。出席した委員８名（１名代理出席、２名欠席）がそれぞれの作品を5点満点で採点した。 同コンテストは6月2日(月)〜7月18日(金)を受付期間として開催されたもので、全国の組合員・会友ら51社から、110作品の応募があった。このうち自由課題は49作品、規定課題の平圧部門は26作品、今回新設した規  定課題の輪転部門への応募数は35作品だった。同審査会では最初に、審査内容を審議した後、審査に移り、委員はまず規定課題の作品から採点。とくに規定課題の輪転部門については、事前に用意したカンプ（オフセット刷り）を参考に点数を付けた。次に、自由課題の49作品を審査した。 その後、各部門ごとに上位作品が発表され、２次審査会に進出する規定課題の各部門１位作品を決定。また、自由課題は上位約２５点を２次審査会に進出させることを決めた。なお、得点は100点満点に換算する。 なお、第二次審査は8月28日（木）、経済産業省、(社)日本印刷産業連合会、全日本シール印刷協賛会等からなる審査委員会によって行われる。その結果で経済産業大臣賞をはじめとする入賞社を決定。入賞社は10月10日(金)の第50回年次大会・東京大会で表彰される予定となっている。
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